描述：EC-770S涂層測厚儀，膜厚儀，厚度儀，厚度計。EC涂層測厚儀本儀器能同時測量磁性基材表面（如鋼、鐵等）的非磁性涂鍍層（如油漆、陶瓷、鉻等），以及非磁性金屬基材表面的非導電涂鍍層（如油漆等）。本儀表內置高精密雙探頭，利用電磁感應和渦流效應，全自動探測基材屬性，計算涂鍍層厚度，并通過液晶快速顯示結果。
EC-770S涂層測厚儀本儀器能同時測量磁性基材表面（如鋼、鐵等）的非磁性涂鍍層（如油漆、陶瓷、鉻等），以及非磁性金屬基材表面的非導電涂鍍層（如油漆等）。本儀表內置高精密雙探頭，利用電磁感應和渦流效應，全自動探測基材屬性，計算涂鍍層厚度，并通過液晶快速顯示結果。
【主要功能】
兩種測量模式，單次和連續(xù)；
可存儲最多五組數(shù)據；
可靈活零校準和多點校準(最多四點)。各組有單獨的零校準和多點校準，組與組之間不影響；
用戶可隨時查看當前工作組已測得的數(shù)據，并刪除所選數(shù)據或整組數(shù)據；
實時顯示或查看當前工作組統(tǒng)計值：平均值，最小值，最大值，標準方差；
三種探頭模式: 自動、磁感應和渦流；
可為各組單獨設置高低限報警值，超*屏幕指示報警，支持紅色背光報警；
可開啟或關閉自動關機功能；
USB接口可傳輸數(shù)據到計算機；
單位可在um、mm、mils之間切換；
低電和錯誤提示；
EC-770S涂層測厚儀【應用場景】
本儀器能無損、快速、精密地進行涂、鍍層厚度的測量。它廣泛應用在電鍍層、表面工藝、質控等檢測領域。
【技術指標與型號對比】
型號 | EC-770 | EC-770S | EC-770E(外置探頭) | EC-770X(內外置探頭可選) | EC-500X(內外置探頭可選) |
探頭通道 | 鐵磁性F探頭 非鐵磁性N探頭 | 鐵磁性F探頭 非鐵磁性N探頭 | 鐵磁性F探頭 非鐵磁性N探頭 | 鐵磁性F探頭 非鐵磁性N探頭 | 鐵磁性F探頭 非鐵磁性N探頭 |
原理 | 磁感應 渦流效應 | 磁感應 渦流效應 | 磁感應 渦流效應 | 磁感應 渦流效應 | 磁感應 渦流效應 |
測量范圍 | 0~2000um 0~2000um | 0~2000um 0~2000um | 0~2000um 0~2000um | 可選內置探頭： F5K N3K F3K N3K F2.5K N2.5K F5K F3K F2.5K N3K N2.5K
可選外置探頭： F5K N3K F3K N3K F2.5K N2.5K F5K F3K F2.5K N3K N2.5K | 可選內置探頭： F0.5K N0.5K F0.5K F0.5K
可選外置探頭： F0.5K N0.5K F0.5K F0.5K |
測量精度 | ±(2.5%+1um) ±(2.5%+1um) | ±(2%+1um) ±(2%+1um) | ±(2.5%+1um) ±(2.5%+1um) | ±(2%+1um) | ±(1%+1um) |
分辨率 | 0.1um(<100um) 1um(其他) 0.1um(<100um) 1um(其他) | 0.1um(<100um) 1um(其他) 0.1um(<100um) 1um(其他) | 0.1um(<100um) 1um(其他) 0.1um(<100um) 1um(其他) | 0.1um(<100um) 1um(其他) | 0.1um(<100um) 1um(其他) |
可存儲數(shù)據個數(shù) | 320 | 2000 | 320 | 2000 | 2000 |
數(shù)據接口：USB | |||||
